Nr umowy: PM/SP/0036/2021/1
Czas realizacji: 01.01.2023 – 31.12.2024
Koszty całkowite: 880 000,00 PLN
Podmiot realizujący: Wojskowa Akademia Techniczna
Kierownik projektu: dr inż. Jarosław Wróbel
Opis projektu:
Głównym celem projektu jest zwiększenie dokładności pomiarów własności elektrycznych – ruchliwości i koncentracji nośników ładunku elektrycznego, dzięki czemu możliwa będzie precyzyjna identyfikacja kanałów przewodnictwa w półprzewodnikowych warstwach epitaksjalnych. Przedmiotem badań będą niskorezystywne struktury półprzewodnikowe, których badania są uzasadnione potrzebami ośrodków badawczych, dysponujących technologią wzrostów epitaksjalnych, przemysłu półprzewodnikowego, medycznego, zbrojeniowego i wielu innych branż, w których stosuje się podzespoły optoelektroniczne. Kluczowe w realizacji celu projektu jest wykorzystanie wzorców metrologicznych. W zamyśle ma to przynieść korzyści nie tylko Wojskowej Akademii Technicznej (WAT), ale również Głównego Urzędowi Miar (GUM), dzięki rozszerzeniu możliwości pomiarowych obu instytucji.
Proponowane prace rozwojowe będą wymagały rozwiązania problemów: (i) badawczych polegających na dokładnym określeniu, jak definiować rezystancyjne „funkcje aparaturowe” (dla różnych trybów pracy), (ii) pomiarowych związanych z ich zmierzeniem, oraz (iii) matematycznych i numerycznych umożliwiających ich efektywną redukcję w celu maksymalizacji sygnału użytecznego w pomiarach badanych próbek. W tym celu planowane jest wykorzystanie bazy laboratoryjnej WAT, wraz z opracowanymi metodami przygotowywania próbek testowych, akwizycji danych i ich przetwarzania. Zespół wykonawców dysponuje w tym obszarze opracowaną w ostatnich latach, unikatową wersją metody o nazwie: analiza widm ruchliwości nośników (ang. MSA – mobility spectra analysis). W realizacji projektu przewidziane jest wykorzystanie rezystancyjnych wzorców metrologicznych dostępnych w Samodzielnym Laboratorium Elektryczności i Magnetyzmu GUM, oraz wsparcie metodologiczne ze strony jego pracowników.